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Ｑ２ ＩＯN直讀火花光譜儀
1．Q2采用了技術—平面視場CCD光學系統，在光柵的色散作用下,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測器上，使得檢測器的每個像素點都得以充分的利用，從而獲取***清晰的分析譜圖，同時，源自Bruker AXS技術平臺的譜圖解析技術采用特殊的計算方法，能夠有效去除譜圖中的背景及干擾信號，從而獲得的分辨率，該技術使得Q2顛覆了傳統的Paschen-Runge 結構設計，確保儀器在保持緊湊的體積同時具有強大的分析性能。
2．Q2 采用了一代的CCD檢測器，目前市場上同類產品所采用的CCD檢測器在分析紫外元素時，均需鍍膜，而鍍膜具有一定壽命， 在一段時間以后將直接影響儀器的分析性能，而Q2采用的為非鍍膜CCD，從而不受鍍膜壽命的影響。
3．Q2光學系統采用了動態溫度補償技術（AAC），該技術采用特殊的材料和結構設計，使得儀器可以有效補償因溫度變化而造成的光室熱脹冷縮現象，從而保持焦距的恒定。確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有優異的穩定性。
實驗室和現場分析用發射光譜儀 Ｑ２ＩＯＮ
Bruker新一代的火花直讀光譜儀Q2 ION將金屬材料的分析便捷性和簡易性帶入了一個新的領域。Q2 ION是現今市場上***為輕巧的高性能直讀光譜儀, Q2功能強大,可同時配備多種基體,是來料檢驗和成品分析的選擇.同時儀器相對低廉的價格定位及低的維護成本,使其在中小企業中備受青睞.
Q2 ION在大多數基體如鐵鋁銅的應用中覆蓋了所有重要的合金元素。對于某些中小鑄造企業，金屬加工廠，質量管理部門，原料倉庫，金屬回收企業，甚至檢測機構，Q2無疑是選擇。
Q2 ION的獨特設計使其重量只有不到20kg，可輕易攜帶到附近的場地進行檢測。另外，用戶還可選配專門的行李箱以方便儀器的攜帶。盡管重量輕，Q2在構造上堅固耐用，可適應各種復雜場所的檢測要求。整個分析過程輕松便捷，只需將樣品放置于火花臺上激發，30秒內即可獲取所有元素的含量信息。
Q2 ION所采用的平面CCD光學系統，無疑是光學結構設計和機械加工技術的大師級杰作，Q2還采用了動態溫度補償系統，從而確保在10至45度的外界溫度下也具有的穩定性。高清晰度CCD檢測器以及[譜圖解析技術使得儀器的分析性能更上一個臺階。
儀器參數：
非渡膜CCD檢測器，具有***低的暗電流
平面光柵
波長覆蓋范圍：170-685nm
分辨率：30pm
氬氣驅氣以確保光通量。
譜圖解析技術
動態溫度補償系統，確保在10至45度的外界溫度下具有的穩定性
分析方法組件：
可應用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類型
可適應未來升級需要
激發源
免維護，兩相ＰＷＭ激發源
頻率５０－１０００Ｈｚ
火花臺
免維護
檢測期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ
軟件
基于Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件
分級用戶權限
定性及定量分析
操作軟件含分析數據庫及辦公軟件接口
牌號庫功能
電源
１００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ）
檢測期間２００Ｗ，待機時５０Ｗ
１６Ａ慢融保險絲或２５Ａ慢融保險絲
尺寸
長Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍＸ３９０ｍｍＸ２２０ｍｍ
重量：１９ｋｇ．
